Vật liệu sắt điện được sử dụng trong nhiều thiết bị, bao gồm bộ nhớ, tụ điện, thiết bị truyền động và cảm biến. Theo thời gian, vật liệu sắt điện phải chịu tải trọng cơ và điện lặp đi lặp lại, dẫn đến suy giảm dần chức năng, cuối cùng dẫn đến hỏng hóc. Quá trình này được gọi là sự “mệt mỏi” ở sắt điện. Đó là nguyên nhân chính gây ra sự cố hỏng hóc của một loạt các thiết bị điện tử.
Sử dụng kính hiển vi điện tử tại chỗ tiên tiến, các nhà nghiên cứu của Đại học Sydney (Australia) có thể quan sát hiện tượng mệt mỏi sắt điện khi nó xảy ra. “Khám phá của chúng tôi là một bước đột phá khoa học quan trọng vì nó cho thấy một bức tranh rõ ràng về quá trình suy thoái sắt điện hiện diện ở quy mô nano”, đồng tác giả, GS Xiaozhou Liao, từ Viện Nano Đại học Sydney cho biết. Nghiên cứu mới hy vọng sẽ cung cấp thông tin tốt hơn về hiện tượng mỏi sắt điện diễn ra như thế nào, giúp các nhà khoa học hiểu rõ hơn về các quy trình này để tạo ra các thiết bị đạt được hiệu suất tốt nhất, bền nhất.
